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SiC MOSFET动态特性测试设备-杭州飞仕得科技股份有限公司

发布日期:2023/5/26 10:09:26 浏览量:934 分享:

产品名称:SiC MOSFET动态特性测试设备

产品简介:

ME300D是Firstack总结10多年IGBT/SiC MOSFET应用经验开发的功率半导体动态参数测试系统,并经历了ME100D,ME200D,ME300D三代产品迭代,致力于帮助客户进行功率半导体开发测试验证,功率半导体应用测试验证。ME300D具备高准确度,高效率,高智能化特点,测试电压最高可达6000V,电流10000A。

产品创新性:

测试项目:单双脉冲、RBSOA、SCSOA、并联均流、窄脉冲

拓扑支持:支持两电平、三电平拓扑

自动可调负载电感:10,20,50,100,200,500μH

低杂散电感母排:15-25nH

探头相位延迟校准技术:自动校准示波器电压电流通道延时

门级电压可配置:负压-15-0V,正压15-25V 可调,分辨率0.1V,精度0.1V

产品面向市场:

工业/自动化,轨道交通,车载驱动

主要参数:

序号1_38_1_设备参数.png

产品图片:

序号1_39_1_ME300D侧视图-压缩.png

联系方式:

地址:杭州市上城区同协路1279号西子智慧产业园5号楼4-5楼

邮编:310000

电话:0571-88171615

网址:www.firstack.com

E-mail:marketing@firstack.com

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